透射電鏡雙傾熱電原位系統的工作原理與應用

透射電鏡雙傾熱電原位系統通過MEMS芯片在TEM樣品桿內構建熱-電復合多場環境，結合EDS（能譜分析）、EELS（電子能量損失譜）、SAED（選區電子衍射）、HRTEM（高分辨透射電鏡）和STEM（掃描透射電鏡）等多種模式，實時監測樣品在真空環境下隨溫度、電場變化的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力及表/界面原子級結構演化。

應用場景：

熱電材料研究：

觀測熱電材料在電壓/溫度變化下的微觀結構演變，揭示其熱電性能與微觀結構的關聯機制。

研究熱電材料在熱-電耦合條件下的失效分析。

金屬-陶瓷復合材料：揭示活性金屬與陶瓷在熱處理和加電條件下的界面反應機制。

高溫合金與相變材料：

原位觀察高溫合金在高溫下的形變機理。

研究相變存儲材料在電場作用下的結構演化，為材料設計提供依據。

能源材料與器件：

分析鋰離子電池正極材料在充放電過程中的結構變化，優化電極材料性能。

研究柔性電子器件在力-電耦合作用下的可靠性，指導器件設計。