Mettler梅特勒 分析天平 靜電可消除 返回列表頁

Mettler梅特勒   分析天平  靜電可消除

Mettler梅特勒   分析天平  靜電可消除

XPR = 梅特勒實驗室稱量旗艦產品線（超越系列）

合規型高精度分析 / 半微量 / 微量 / 超微量天平，對標賽多利斯 Cubis 系列，高于 ME 系列、優于 ML/AL 入門分析天平。

優勢（精準基礎）

Monobloc 一體式傳感器 + ATC 主動溫控

溫漂控制優異，重復性更好，穩定速度更快；最小稱量值更低（滿足 USP41），微量貴重樣品也能可靠稱量，減少樣品消耗。

SmartPan 懸掛式秤盤

削弱氣流擾動影響，通風櫥內使用穩定性明顯優于普通托盤結構；讀數響應更快。

proFACT 高級全自動內校

溫度變化、定時雙重觸發自動校準，無需人工干預，持續保障稱量精度。

DR/DU 雙量程機型一機兩用

同時覆蓋大量程粗稱 + 高分辨率微量稱量，一臺天平替代兩臺，節約臺面與預算

合規與數據完整性（藥企 / 檢測機構核心剛需）

原生支持ALCOA+、GMP、21CFR Part11、FDA 審計、USP41；內置審計追蹤、分級用戶權限、操作日志。

深度兼容LabX 專業實驗室管理軟件，結果自動存檔、方法統一下發、任務流程標準化；簡易版 EasyDirect 免費數據導出。

多路通訊接口：USB、以太網，可直連 LIMS、打印機、掃碼槍，消除人工抄錄錯誤。

操作、清潔與拓展靈活性

7 英寸彩色觸控屏，支持戴手套操作；可選 SmartSens 紅外感應非接觸開關防風門，避免觸碰造成振動與污染。

防風罩、秤盤、滴盤免工具快速拆卸，可水洗，降低交叉污染風險。

平臺可升級：基礎手動天平可加裝 Q 自動粉末分配模塊，升級為自動稱量系統；支持 ErgoClip 直加樣支架、密度組件、濾膜稱量支架等配件。

Q 自動分配機型：珍貴標準品、有毒粉體自動稱量，減少人員接觸，降低樣品損耗。

典型應用場景

制藥行業（最主流）

原料藥、對照品 / 標準品稱量、微量標液配制；

藥品研發、QC 質量檢測、溶出樣品、膠囊含量均勻度；

符合 GMP、FDA 審計、USP41 稱量規范。

化學 & 新材料實驗室

有機合成、催化劑、貴金屬、稀土微量試劑稱量；

差重法稱量、密度測試、熱重樣品前處理；

鋰電池材料、粉體材料微量配方。

環境檢測

濾膜稱重（大氣顆粒物 PM2.5/PM10）、重金屬痕量分析；

土壤、沉積物微量待測樣品制備。