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中冷低溫ThermoChuck200卡盤
中冷低溫ThermoChuck200卡盤·溫度控制真空卡盤可容納300毫米的晶圓.· 高精度,控溫性好,穩定...
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所在地:成都市
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¥8888更新時間:2026/7/15 18:05:16
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高低溫Thermochuck接觸式探針臺卡盤接觸式卡盤快速溫變控溫卡盤高低溫CHUCK
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ThermoChuck200 高低溫探針臺卡盤
ThermoChuck200 高低溫探針臺卡盤·溫度控制真空卡盤可容納300毫米的晶圓.· 高精度,控溫性好,穩定性均勻.·可提供...
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所在地:成都市
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¥8888更新時間:2026/7/15 18:03:20
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Thermochuck熱控卡盤卡盤探針臺卡盤快速溫變控溫卡盤高低溫CHUCK
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ThermoChuck200 高低溫度卡盤
ThermoChuck200 高低溫度卡盤·溫度控制真空卡盤可容納300毫米的晶圓.· 高精度,控溫性好,穩定性均勻.·可提供標準、高隔離性和防護配置.
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所在地:成都市
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¥8888更新時間:2026/7/15 18:01:20
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Thermochuck卡盤探針臺卡盤高低溫Plate高低溫CHUCK
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Thermochuck熱控卡盤三溫芯片探臺針
Thermochuck熱控卡盤三溫芯片探臺針,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所...
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所在地:成都市
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¥11111更新時間:2026/7/15 10:01:35
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck探針臺卡盤三溫Chuck
ThermoChuck探針臺卡盤三溫Chuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:47:57
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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Thermochuck三溫芯片探針臺
Thermochuck三溫芯片探針臺,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:45:54
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫芯片探針臺Thermochuck熱控卡盤
三溫芯片探針臺Thermochuck熱控卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:43:59
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫CHUCK熱控卡盤
ThermoChuck高低溫CHUCK熱控卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:41:45
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫芯片探針臺Thermochuck
三溫芯片探針臺Thermochuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:39:32
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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Chuck探針臺卡盤三溫芯片測試卡盤
Chuck探針臺卡盤三溫芯片測試卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:37:30
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck探針臺卡盤高低溫Thermochuck
ThermoChuck探針臺卡盤高低溫Thermochuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:35:19
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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卡盤Thermochuck溫度迫使系統
卡盤Thermochuck溫度迫使系統,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:33:47
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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快速溫變控溫卡盤Thermochuck
快速溫變控溫卡盤Thermochuck,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:31:33
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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Thermochuck熱控卡盤
Thermochuck熱控卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和多功...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:29:14
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫Chuck探針臺卡盤高低溫卡盤
三溫Chuck探針臺卡盤高低溫卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:27:20
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫載物臺
ThermoChuck高低溫載物臺,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:20:29
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫CHUCK
ThermoChuck高低溫CHUCK,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:18:01
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck高低溫Plate
ThermoChuck高低溫Plate,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:15:54
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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ThermoChuck卡盤探針臺卡盤
ThermoChuck卡盤探針臺卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:13:48
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫
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三溫Chuck探針臺卡盤
三溫Chuck探針臺卡盤,晶圓盤系統用于半導體晶圓的表征測試、建模、工藝開發、設計調試,去BUG或IC故障分析,具有所有主要分析探針臺集成所需的性能和多功能性,...
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¥11111更新時間:2026/7/15 9:11:48
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探針臺卡盤三溫ChuckThermal Chuck晶圓盤高低溫